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Semilab WT-2000 半导体多功能测试仪
WT-2000 Multifunction Wafer Mapping Systems


成版人黄瓜视频APPWT-2000 提供349nm,904nm,1064nm,1550nm等不同激发光,适合Si,SiC, GaAs, CdZnTe, InGaAs 等各种材料电学参数测试。

测试选项:

成版人黄瓜视频APPu-PCD 技术做少子寿命扫描测试

成版人黄瓜视频APP表面光电压(SPV)做扩散长度面扫描测试

光诱导电流(LBIC)测试材料缺陷分布

测试特定金属杂质和沾污:Fe

涡流法测试电阻率

4探针测试电阻率